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            • APS-100型APS-100高濃度納米粒度儀
              APS-100型APS-100高濃度納米粒度儀

              更新時間:2020-04-01

              型號:APS-100型

              瀏覽量:1332

              APS-100高濃度納米粒度儀,APS 從聲衰減光譜測量產生PSD數據,不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。
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            • Zeta-FinderZF400型ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀
              Zeta-FinderZF400型ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀

              更新時間:2020-03-20

              型號:Zeta-FinderZF400型

              瀏覽量:1997

              ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀 采用專門的電動聲波振蕩技術,該儀器可完成非凡的電動測量結果,從而避免了傳統的微電泳技術的許多限制和局限,該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作;
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            • ZetaAPS型高濃度納米粒度儀及zeta電位分析儀
              ZetaAPS型高濃度納米粒度儀及zeta電位分析儀

              更新時間:2021-08-19

              型號:ZetaAPS型

              瀏覽量:1853

              Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀$nZeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數檢測儀,可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。$n此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%(體積)濃度的樣品,也無需進行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。
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            • ZetaAcoustic ZA500 高濃度Zeta電位分析儀
              ZetaAcoustic ZA500 高濃度Zeta電位分析儀

              更新時間:2020-11-25

              型號:

              瀏覽量:2853

              ZetaAcoustic ZA500 高濃度Zeta電位分析儀$n美國MAS公司成立至今有30余年歷史,專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、 Zeta電位分析儀的研發生產。超聲法原理測試樣品的顆粒分布,是采用聲波發生器發出一定頻率和強度的超聲波在樣品中傳播,由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同,導致聲波衰減程度不同。根據顆粒大小和聲波衰減之間的函數關系,得到顆粒的粒度分布。
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            • CHDF3000型高分辨率納米粒度儀
              CHDF3000型高分辨率納米粒度儀

              更新時間:2020-03-19

              型號:CHDF3000型

              瀏覽量:1138

              高分辨率納米粒度儀 1】高分辨率粒度分布(PSD)測量 新的技術,包括顆粒檢測高靈 敏度、動態范圍和納米顆粒優化分析。 2】粒子分餾的真實 PSD 數據。無需對粒徑分布的形狀進行假設。 3】精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關的分析。 4】自動/無人操作。所有組件都在一個簡易單一窗口界面控制和操作。
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            • AREPA型原液zeta電位分析儀
              AREPA型原液zeta電位分析儀

              更新時間:2020-11-25

              型號:AREPA型

              瀏覽量:1419

              AREPA原液在線納米粒度儀$n在線粒度測量,工業加工狀態,不必稀釋樣品經硬件設計可全(24 hours/7 days) 候運作,無需移動部件實時控制的快速測量
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            • CHDF4000型高分辨率納米粒度儀
              CHDF4000型高分辨率納米粒度儀

              更新時間:2020-03-19

              型號:CHDF4000型

              瀏覽量:1395

              高分辨率納米粒度儀 CHDF4000是基于光散原理的儀器,使用新的技術對高分辨率的粒度分布(PSD)進行測量,包括高粒子檢測靈敏度、動態范圍、納米粒子的優化分析;
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            • CHDF4000型CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀
              CHDF4000型CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀

              更新時間:2020-03-26

              型號:CHDF4000型

              瀏覽量:1327

              CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀 CHDF4000是基于光散原理的儀器,使用新的技術對高分辨率的粒度分布(PSD)進行測量,包括高粒子檢測靈敏度、動態范圍、納米粒子的優化分析; CHDF4000可提供完整范圍5納米至NM3微米,真實的PSD數據; 通過粒子分離真正的PSD數據,關于粒子大小分布的形狀不需要假設; 自動化操作,通過一個人性化界面即可完成全部操作
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